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簡(jiǎn)述納米粒度電位分析儀的工作原理

 更新時(shí)間:2024-07-18 點(diǎn)擊量:274
  納米粒度電位分析儀是一種用于測(cè)量納米顆粒在液體中分散狀態(tài)的儀器。它的工作原理基于動(dòng)態(tài)光散射(DLS)技術(shù),通過(guò)測(cè)量顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)速度來(lái)推算顆粒的大小和表面電荷。
 
  在納米粒度電位分析儀中,激光光源發(fā)出的光束被聚焦到樣品容器中。當(dāng)光線(xiàn)照射到納米顆粒上時(shí),會(huì)發(fā)生散射現(xiàn)象。由于納米顆粒的尺寸遠(yuǎn)小于光波長(zhǎng),因此散射光的強(qiáng)度與顆粒的體積成正比。通過(guò)檢測(cè)散射光的強(qiáng)度變化,可以計(jì)算出顆粒的大小分布。
 
  為了測(cè)量顆粒的表面電荷,使用了一個(gè)稱(chēng)為電泳的技術(shù)。在電泳過(guò)程中,一個(gè)外加電場(chǎng)被施加到樣品容器中。這個(gè)電場(chǎng)會(huì)使帶電的納米顆粒發(fā)生運(yùn)動(dòng),從而改變散射光的頻率。通過(guò)測(cè)量散射光頻率的變化,可以計(jì)算出顆粒的表面電荷大小。
 

納米粒度電位分析儀

 

  此外,它的主要組成部分包括:激光器、光學(xué)系統(tǒng)、樣品容器、光電探測(cè)器和數(shù)據(jù)處理單元。激光器產(chǎn)生一束高能量的單色光,經(jīng)過(guò)光學(xué)系統(tǒng)后聚焦到樣品容器中。樣品容器通常是一個(gè)透明的玻璃或塑料管,其中包含待測(cè)的納米顆粒懸浮液。光電探測(cè)器用于檢測(cè)散射光的強(qiáng)度和頻率變化,并將這些信息傳輸給數(shù)據(jù)處理單元進(jìn)行分析。
 
  數(shù)據(jù)處理單元根據(jù)動(dòng)態(tài)光散射理論和電泳原理對(duì)收集到的信號(hào)進(jìn)行處理,最終得到納米顆粒的大小分布和表面電荷大小。這些結(jié)果可以以圖形或表格的形式顯示出來(lái),供用戶(hù)進(jìn)一步分析和解釋。
 
  總之,納米粒度電位分析儀通過(guò)結(jié)合動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)和電泳原理,實(shí)現(xiàn)了對(duì)納米顆粒在液體中分散狀態(tài)的精確測(cè)量。它廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、化學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域,為研究納米材料的制備、性質(zhì)和應(yīng)用提供了有力的實(shí)驗(yàn)手段。
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