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澳譜特粒度儀亮相第61屆高博會為高校科研注入新動(dòng)力

 更新時(shí)間:2024-04-16 點(diǎn)擊量:4380

2024年4月15日,春意盎然,花團(tuán)錦簇,第61屆中國高等教育博覽會在福州海峽國際會展中心盛大開幕。在這場匯聚智慧與創(chuàng)新的盛會上,澳譜特科技上海有限公司粒度粒形分析儀,為高??蒲泻徒虒W(xué)注入了新動(dòng)。

澳譜特粒度儀亮相第61屆高博會,為高??蒲凶⑷胄聞?dòng)力

 

 

澳譜特科技上海有限公司作為粒度粒形分析儀器的專業(yè)生產(chǎn)廠商,始終堅(jiān)持“品質(zhì)源于專業(yè),創(chuàng)新構(gòu)建未來”的宗旨。本次博覽會上,澳譜特帶來了Zetatronix系列納米粒度及Zeta電位分析儀以及MorphoVIEW系列圖像粒度粒形分析儀,這些產(chǎn)品憑借優(yōu)良品質(zhì)、簡便操作特點(diǎn),吸引了眾多高校師生的關(guān)注

 

在展會現(xiàn)場,澳譜特工作人員詳細(xì)介紹了粒度粒形分析儀的工作原理、應(yīng)用領(lǐng)域以及優(yōu)勢特點(diǎn),通過生動(dòng)的演示和專業(yè)的講解,讓參會深刻感受到了澳譜特產(chǎn)品的性能和技術(shù)實(shí)力。

 

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16日上午,在“開創(chuàng)未來:新成果 新技術(shù)”交流活動(dòng)上,澳譜特科技的應(yīng)用工程師向與會者匯報(bào)了“多角度動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)”的最新研究成果,展示了Zetatronix 939SZ納米粒度及Zeta電位分析儀,939SZ以高速數(shù)字相關(guān)器為核心器件,使用多角度動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)測量顆粒粒度,提供與角度無關(guān)的高分辨率顆粒粒度分布,使用電泳光散射技術(shù)測量Zeta電位。智能化軟件自動(dòng)調(diào)整散射光強(qiáng),自動(dòng)優(yōu)化測量參數(shù),自動(dòng)剔除異常散射光數(shù)據(jù),自適應(yīng)截取相關(guān)函數(shù),以適應(yīng)不同樣品的測量需求。

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此次展會,澳譜特科技還展示了MorphoVIEW 系列圖像粒度粒形分析儀用于測量顆粒粒度與粒形參數(shù)。MorphoVIEW 系列分析儀包括全自動(dòng)的靜態(tài)圖像和動(dòng)態(tài)圖像粒度粒形分析儀,能夠快速地提供粒度和粒形信息,對顆粒的宏觀、介觀、微觀形態(tài)特征進(jìn)行詳細(xì)的表征。

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澳譜特科技始終堅(jiān)持以客戶需求為導(dǎo)向,不斷創(chuàng)新和進(jìn)步,為高校科研院所提供更加優(yōu)質(zhì)、高效的產(chǎn)品和服務(wù)。

 

 

 

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